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福禄克Fluke 941照度计可测量荧光灯/金属卤化灯/高压钠灯或白炽灯等光源发出的可见光,照度计Fluke 941测量单位可在勒克斯（LUX）和尺烛光（FC）间切换,Fluke 941照度计测量范围20、200、2000、20000、200000 Lux（勒克司
照度计FT3424符合国际DIN 5032-7 class B标准,日本HIOKI FT3424照度计适用于从应急灯、导光灯等从低照度到高照度(200000lx)的测量
日本日置HIOKI TM6101 LED光测试仪测量速度5ms,TM6101LED光测试仪适用于白色LED生产线的光学特性测量,LED光测试仪TM6101测量白色LED和LED照明设备
日本日置HIOKI 3423照度计手持式照度计,HIOKI 3423数字照度计测量范围20～200,000lx;照度计3423硅光二极管光敏元件
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日置HIOKI 9262测试冶具是LCR测试仪用测试夹具;日置HIOKI 9263测试冶具可用于LCR测量仪3522-50,3532-50,3511-50,3535,IM3570，测试冶具9262和测试冶具9263直接连接型，DC~5MHz
SCX7166四探针方块电阻率测试仪电阻测试范围:10uΩ-1MΩ;方阻测试范围: 10uΩ/□-1MΩ/□；SCX7166四探针方块电阻率测试仪也是电阻率测试仪、电导率测试仪.该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，四探针方块电阻率测试仪SCX7166适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试.配置不同的测试探头，可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻.
福禄克Fluke 712C热电阻校准仪双路输入和背光显示,热电阻校准仪Fluke 712C热电阻温度校准,Fluke 712C 热电阻校准仪输出温度信号源的同时测量 4 至 20 mA 信号
昂盛达ASD-B0102单节2A模拟电池可模拟5V 2A的电池,ASD-B0102模拟电池具有充放电功能,单节2A模拟电池ASD-B0102可作为六位半电流表测试PCBA的静态电流
