欢迎光临广州君达仪器仪表有限公司官方网站

关于君达 联系我们

联系电话:400 892 1718

手机微信:13602481136

当前位置:网站首页 >>现场测试仪 >> 详细介绍

DT-205L接触非接触式两用转速表

 

产品详情

DT-205L接触非接触式两用转速表

测量范围宽(6-99,999rpm),适用于大多数应用场合,集成了最新的微处理器和激光技术,是非接触/接触两用型转速计。在非接触模式,用激光束测量轴或其它转动机械的每分钟转数(RPM)。利用200L适配器进行接触式测量,通过橡胶锥体或滚轮附件测量转速、线速率或运动长度

  1. 多模式测量:RPM、mPM、YPM、FPM或IPM以及总运动长度(米、码、英尺或英寸)
  2. 大容量存储器最多可存储13次测量数据
  3. 单片微处理器控制,确保高可靠性和低维护量
  4. 非接触模式最远可从4.3m(14英尺)处安全地测量
  5. 超大屏幕5位LCD显示器,清晰易读
  6. 电池寿命长,可连续使用40小时以上
  7. 模铸铝外壳,轻便、结实、耐用
日本新宝SHIMPO DT-205L接触非接触式两用转速表技术参数
型号 SHIMPO DT-205L SHIMPO DT-207L
测试范围 6--99,999rpm
精度 ?rpm: 6--8,300rpm
?rpm: 8,300--25,000rpm
读数±0.006% ±1位(最大±2rpm):25,000--99,999rpm
显示 5位数,12mm高,液晶 5位数,10mm高,发光二极管
测量单位 转/分(接触测量时请安装本仪表配备的接触头)
可使用的测量单位有:码/分,米/分,英寸/分
测量的长度单位有:码、米、英尺、英寸:
使用6英寸主轮需配200L接触头
存储系统 存储器中存储13个读数,并保留5分钟,包括最后一个、
最大的、最小的和10个特别测量值
显示更新时间 1秒(典型常用的)
鉴别 发光二极管
系统控制 单片CMOS微处理器
超范围显示 闪烁数字
电源 5号电池(1.5V)×2节
电压不足显示 ”LOBAT“字样闪烁显现 显示”B”字样
自动电源切断功能 有
电池使用时间 约40小时 约25小时
工作温度 0~45℃
构造 压模铸件铝合金机壳
重量 365g
外形尺寸 167.5mm?0mm?6mm
保修期 一年
标准配件 反光胶带、锥形接触头、机壳、证书、使用说明书、6英寸主轮及200L接触头

推荐产品

Our Products
日本日置HIOKI 3197电能质量分析仪配钳式传感器HIOKI 9661/9667/9669/9660,电能质量分析仪HIOKI 3197三相电能质量分析仪,HIOKI 3197电能质量分析仪电力品质检测用便携式故障分析;电能质量分析仪HIOKI 3197国内一级代理商现货供应
日置hioki BT3562A电池内阻测试仪测量范围3mΩ~3000Ω,日本日置HIOKI BT3562A电池内阻测试仪0.01%精度和10μV最小分辨率,HIOKI BT3562A电池测试仪用于检查高电压电池组/电池单元的生产线,hioki日置BT3562A电池内阻测试仪OCV测试分辨率精度3mΩ
VM-83S超低频振动测试仪最低测量频率可达0.1Hz,日本理音RION VM-83S超低频振动测试仪使用分离式振动传感器,VM-83S超低频振动测试仪能测量超低频振动的加速度、速度及位移值
SCX7168四探针方块电阻率测试仪电阻测试范围:1uΩ-100MΩ;方阻测试范围:  1uΩ/□-100MΩ/□,SCX7168四探针方块电阻率测试仪最高电阻精度0.05 %;电阻最小分辨1uΩ,最高方阻精度:3 %;方阻最小分辨1uΩ,四探针方块电阻率测试仪SCX7168适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试.配置不同的测试探头,可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻.
地址:广州市越秀区寺右新马路4-8号长城大厦1213房
本站为原创设计 已做镜像备份 抄袭必究 粤ICP备08014908号
CopyRight © 1999-2026 君达仪器 版权所有
立即登录

会员注册

忘记密码
注册成为广州君达仪器会员
* 手机号码
* 登录密码
* 确认密码
* 公司名称
* 真实姓名
* 关注产品
* 联系邮箱
* 请选择您的性别
* 短信验证

点击获取短信验证码

立即注册账户

X
会员修改密码
* 手机号码
* 登录密码
* 确认密码
* 短信验证

点击获取短信验证码

立即修改密码

X