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HIOKI日置IM7583阻抗分析仪RF I-V法测量频率1MHz~600MHz,日本HIOKI IM7583阻抗分析仪丰富的接触检查功能DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定,日本HIOKI IM7583阻抗分析仪元器件测量电感、电容、电阻
全自动显微硬度计AHVST-1000ZXY主要用于测量微小、薄型试件、脆硬件的测试，全自动显微维氏硬度计 AHVST-1000ZXY通过选用各种附件或者升级各种结构可广泛的用于各种金属(黑色金属、有色金属、铸件、合金材料等)、金属组织、金属表面加工层、电镀层、硬化层(氧化、各种渗层、涂镀层)、热处理试件、碳化试件、淬火试件、相夹杂点的微小部分，玻璃、玛瑙、人造宝石、陶瓷等脆硬非金属材料的测试。尤其适用于大批量测量工件的硬度梯度分布曲线，和指定部位的硬度测试。
日置HIOKI 9143针型测试探头是LCR测试仪用测试夹具;针型探头HIOKI 9143可用于LCR测量仪3522-50,3532-50,3511-50,针型测试探头9143 DC～5 MHz
