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HIOKI 3540微电阻计

 

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HIOKI日置DT4215数字万用表测量电压、电阻、电流、电容、二极管测试;HIOKI日置DT4215数字万用表IEC61010中根据使用场所的不同将作为测量等级的安全等级标准分为CATⅡ〜CATⅣ
SCX7168四探针方块电阻率测试仪电阻测试范围:1uΩ-100MΩ;方阻测试范围:  1uΩ/□-100MΩ/□,SCX7168四探针方块电阻率测试仪最高电阻精度0.05 %;电阻最小分辨1uΩ,最高方阻精度:3 %;方阻最小分辨1uΩ,四探针方块电阻率测试仪SCX7168适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试.配置不同的测试探头,可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻.
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