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日置HIOKI IM3570阻抗分析仪测量频率4Hz-5MHz
日置HIOKI阻抗分析仪IM3570测量量程100mΩ~100MΩ,阻抗分析仪IM3570可进行LCR、DCR测量和扫描测量,HIOKI日置IM3570阻抗分析仪可测量Z、Y等15种参数,日置HIOKI阻抗分析仪IM3570测量频率4Hz-5MHz
TIME2500覆层测厚仪
北京时代之峰TIME2500覆层测厚仪TT220涂层测厚仪的替代型号,符合GB/T 4956-2003磁性基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性法
HIOKI 3540-01微电阻计,HIOKI 3540-03微电阻计
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