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RTS-4型数字式四探针测试仪广州四探针科技公司生产，RTS-4型数字式四探针测试仪家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)，广州四探针数字式四探针测试仪RTS-4适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试
钳形表Fluke 355测能够测量粗导线或多条导线的电流钳表,福禄克Fluke 353钳形表2000A真有效值钳表,Fluke 355钳形表涌入电流测量可以准确地重复捕获‘开机’浪涌电流
DC信号源SS7012信号发生和测量可同时进行,日本日置HIOKI SS7012直流信号源用于测量设备系统(4-20 mA)和回路测试,直流信号源SS7012可以正对 K、E、J、T、R、S、B、N 8种热电偶输出电压
稳科wayne kerr WK6500P高频LCR测试仪1J6505P频率范围20Hz~5MHz,1J6510P频率范围20Hz~10MHz, 1J6515P频率范围20Hz~15MHz,1J6520P频率范围20Hz~20MHz,1J6530P 频率范围20Hz~30MHz,1J6550P频率范围20Hz~50MHz,1J65120P频率范围20Hz~120MHz
