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全自动显微硬度计AHVST-1000ZXY主要用于测量微小、薄型试件、脆硬件的测试，全自动显微维氏硬度计 AHVST-1000ZXY通过选用各种附件或者升级各种结构可广泛的用于各种金属(黑色金属、有色金属、铸件、合金材料等)、金属组织、金属表面加工层、电镀层、硬化层(氧化、各种渗层、涂镀层)、热处理试件、碳化试件、淬火试件、相夹杂点的微小部分，玻璃、玛瑙、人造宝石、陶瓷等脆硬非金属材料的测试。尤其适用于大批量测量工件的硬度梯度分布曲线，和指定部位的硬度测试。
HIOKI日置DT4215数字万用表测量电压、电阻、电流、电容、二极管测试；HIOKI日置DT4215数字万用表IEC61010中根据使用场所的不同将作为测量等级的安全等级标准分为CATⅡ〜CATⅣ
苏州晶格ST2722-SZ型四探针法粉体粉末电阻率测试仪是半导体粉末电阻率测量仪器，四探针法粉体粉末电阻率测试仪ST2722-SZ型增配四探针测试台、探头拓展为普通四探针测试仪或电池极片电阻率测试仪，ST2722-SZ四探针法粉体粉末电阻率测试仪符合符合新GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电阻率测试的原理和规范，参照GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。
