C测试仪-HIOKI日置C测试仪-日置HIOKI容量C测试仪

C测试仪3506-10P
测量频率1kHz、1MHz的C测试仪，低电容的贴片时可稳定测量
低容量,高精度,高速测试
模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度

C测试仪3504-40D
测量频率1KHz/120Hz
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
高速测量2ms
能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断

对应测试线，比较器功能/触发输出功能