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日置RM3545电阻计4端子法测量导电性材料的体积电阻率和表面电阻率

日置电阻计RM3545使用4端子法测量体积电阻率、表面电阻率和电导率。

要点

4端子法是指使用4针探头,从通过4端子法测得的电阻值中,算出体积电阻率、表面电阻率(薄层电阻)的方法。
电阻计RM3545通过4针探头和PC应用软件能够实现4端子测量。

● 有两种类型的4探针,针间距1.5mm和针距5.0mm。
● 测量单元包括体积电阻率、表面电阻率和电导率。可以选择电阻值作为参考值。
● 从输入样本的尺寸和测量坐标位置中也会显示算出的补偿系数。
● 测量模式符合JIS K 7194 *标准(使用5.0mm夹型探头时)。
● 便利性,例如探测位置的向导显示,测量历史的显示,测量结果的CSV输出等。
● 以基本精度0.006%,最高分辨率0.01μΩ(RM3545的参数)来测量低电阻值。从而获得高精度的体积电阻率。

注意事项:4探针探头是特注品。购买时请邮件info@hioki.com.cn咨询。

使用仪器

电阻计 RM3545
4探针探头(针间距5.0mm)
4探针探头(针间距1.5mm)

※ 记载的内容是根据2018年2月的情况。产品参数可能会有更改,请以现在发行的为准。

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