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C测试仪3505,C测试仪3506

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商品介绍
  

C测试仪3505测试源频率: 1kHz,100kHz,1MHz,
C测试仪3506测试源频率: 1kHz,1MHz,
C、 (tan δ), Q项目测试
能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容
高速测量: 2ms
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
反复测量精度更高,最适合生产线
校正维修功能,减低由环境的温度变化影响
测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能
比测仪的设定值和测定值的同步显示
2ms的高速测量;1kHz,1MHz 测量
根据BIN的测定区分容量
比测仪和触发器同步输出功能
日置HIOKI 3505 C测试仪基本参数

测量参数 C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)
测量范围 C:0.000fF ~ 15.0000mF
D: 0.00001 ~ 1.99999
Q:0.0 ~ 19999.9
基本确度 代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B~Eは各系数
测量频率 3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz
测量信号电平 500mV, 1V rms
输出电阻 1Ω (在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在 22nF以上的测量范围: 100kHzs), 20Ω 上述测量范围以外)
显示 LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
测量时间 代表值: 2.0 ms (FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能 BIN 分选测量功能, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能,平均机能, Low-C抵抗机能, 震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,EXT I/O输入/输出, RS-232C接口, GP-IBイ接口
电源 AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大40VA
体积及重量 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
附件 电源线× 1, 电源备用保险丝× 1

HIOKI 3506 C测试仪输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件

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