日本日置HIOKI
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LCR测试仪3535

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商品介绍
  
LCR测试仪3535测试|Z|, L, C, R
测试源频率100kHz~120MHz
高速测量: 6ms
拆卸式前置放大器可选择
为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
3535LCR测试仪通过I/O接口可从外部控制触发、键盘锁开/关、以及测量条件的装载。而且比较结果、测量完成等可以输出,可应用于自动化生产线。

LCR测试仪HIOKI 3535标准配置了RS-232C和GP-IB接口,除了电源ON/OFF以外,其它功能都可以由计算机来实现控制。
RS-232C接口:
传输方式: 通信方式: 全双工,同期方式: 启停式传输
传输速度: 9,600、19,200bps数据长度: 8位
奇偶特性: 无
停止位: 1位
符号: CR+LF、CR
跟踪控制: 无
连接方法: D-sub9pin插入式、反向连接
LCR测试仪3535 GP-IB接口:
标准规格: IEEE-488.1 1987
可使用IEEE-488.2 1987的共同指令
日置HIOKI 3535LCR测试仪技术参数:

测量参数

|Z|,|Y|,Q,Rp,Rs(ESR),G,X,B,θ,Ls,Lp,Cs,Cp,D(tanδ)

前置放大器
决定的测量量程

前置放大器

9700-01

9700-02

9700-03

Z和R

100mΩ~1kΩ

500Ω~10kΩ

5kΩ~100kΩ

C

1.33pF~15.9μF

0.133pF~3.18nF

0.1pF~318pF

L

1nH~1.59mH

663nH~15.9mH

6.63μH~159mH

θ

-180.00°~180.00°

 

测量频率

量程

100kHz~120MHz

分辨率设置

4位(使用前控制板设置)

100.0kHz~1.000MHz

100Hz幅度

1.000MHz~10.00MHz

1kHz幅度

10.00MHz~100.0MHz

10kHz幅度

100.0MHz~120.0MHz

100kHz幅度

使用GP-IB或RS-232C接口时,分辨率为1Hz。

精度

最大± 0.005%,相对于设置值

 

测量电平

开路接口电压(V)
和恒压(CV)模式

5mV~1V,最大20mA(10.000MHz以下)
5mV~500mV,最大10mA(10.01MHz以上)

分辨率

1mV幅度

精度

±(5%+5mV)×(2+log f)(f为MHz数)

恒流(CC)模式

200μA~20mA,最大1V(10.00MHz以下)
200μA~10mA,最大0.5V(10.01MHz以上)

分辨率

10A幅度

精度

±(10%+50μA)× (2+log f)(f为MHz数)

 

基本精度

Z:± 0.5%rdg. θ:± 0.3°

输出阻抗

50Ω ± 10Ω(100kHz时)

监视

电压0.000V~1.000V
电流0.000mA~20.0mA

限制

电压(设置为CC)0.005V~1.000V
电流(设置为V或CV) 0.20mA~20.00mA

平均

关,2,4,8,16,32,64

触发

内置触发器,外置触发器
触发延时0.01s~9.99s;0.01s分辨率

比较

可得到两组测量参数:百分比,△%,或绝对值设置(△%即显示测量值与标准值的偏差)

控制盘存储和调用

最多30组

屏幕显示

测量值和比较器的判断结果

显示线数

可设置成3,4,或5;根据参数可能有所不同

打印

拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)

接口

GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)

操作环境

10~40°C,最大80%rh,无凝结

仓储环境

-10~55°C,最大80%rh,无凝结

供电电源

交流100V~240V,50/60Hz,约50VA

体积及重量

约360宽×130高×360厚(mm);8.3kg

LCR测试仪HIOKI 3535选件:
9700-10 前置放大单元:测量范围: 100mΩ~300kΩ
9677 SMD测试冶具:侧面SMD 电极;工作频率: DC~120MHz,测量对象尺寸: 3.5±0.5mm, 与3535组合使用时,无CE标记
9699 SMD测试冶具:底部SMD电极,工作频率: DC~120MHz,测量对象尺寸: 宽1.0~4.0mm, 高1.5mm以下
9678 连接电缆:电缆长: 2m
9151-02 GP-IB连接电缆:2m 长

HIOKI 3535LCR测试仪测量原理:利用数字控制的自动平衡电桥回路
    从第1振荡器产生测量信号,外加于样品(DUT),测量LOW端口电压,在其变为平衡状态(LOW端口电压0V)时,控制第2振荡器的相位和振幅。从变为平衡状态后的第2振荡器的相位和振幅,获得DUT的阻抗Z和相位角θ。
LCR测试仪HIOKI 3535为100kHz~120MHz的宽频量程且价位低。具有6ms高速测定的内置比较器和负载补偿、BIN(分类)测量功能,应用范围广,例如芯片互感、高速磁头测试以及其他相关研发需求。可将前置放大器与3535拆离,使用指定电缆将其延伸,并尽可能接近被测物,以减小测量导线的影响。简易的操作和低廉的价格,赋予这些元器件测试仪器出众的性价比。无论是用于实验室评估运行特性,还是用于生产线,都是您的理想选择。
宽频测量范围
  测量频率100kHz~120MHz,以4位分辨率进行设置。
最快6ms高速测量
  4种采样速度可供选择:FAST/NORMAL/SLOW/SLOW2。最快约为6ms(显示|Z|时),为提高生产线效率提供快速采样。(测量频率视测量参数的不同而不同)。
14种测量参数
  可测量以下参数,也可使用计算机捕捉必要的参数。|Z|,|Y|,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Lp,Ls,Cp,Cs,D(tanδ)和Q。
测量的同时进行测量条件的调整
  测量频率、信号电平等测量条件,可在监视测量值的同时进行更改,所以可有效发挥于事前测量、评估标准等设置。
测量值的存储
  主机可存储200组测量值。保存数据可一次传输到计算机或打印出来。
放大显示功能
  最多4组参数可放大显示,便于生产线或其它距显示有一定距离的情况下观察测量值。
打印输出
  使用选件9442打印机,测量值、比较结果和屏幕数据可打印输出。
BIN(分类)测量
  2种测量最多使用10组分类,利用测量值可以很容易地进行分类。
连续测量
  可存储30组测量条件。从中最大可连续测量保存于屏幕的5组测量条件。使用比较器功能时,使用1台、并通过一系列的操作,可获得这些条件的AND输出。
负载补偿功能
  测量用于基准参考的样品,可补偿测量值。用此功能可调和各仪器间的测量值。
存储30组测量条件
  利用可存储30组包括比较值在内的测量条件的功能,为随时更换的样品检测的反复测量生产线,提供快速响应。
同时测量4种参数
  可选择任何4种参数同时测量并显示。
相关补偿功能
  可设置以下补偿系数a和b,达到对测量值的补偿。补偿值=a×测量值+b 
本文链接:http://www.hioki.net.cn/a/LCRceshiyi/20111029/3535.html

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