阻抗分析仪IM3570可进行LCR、DCR测量和扫描测量。而且和HIOKI以往的LCR测试仪相比，大幅缩短了测量时间，进一步提高了测量精度。将用于线圈、电容、压电元件等电子零部件生产线上的检查，另外还适用于大学和企业研究部门的开发方面。
IM3570阻抗分析仪特点
不同测量条件下，1台进行高速测量:
    测量电容等零部件时，有时在不同条件下(频率、电平)测量多种测量项目，1条生产线中需要多台测量仪器。IM3570可再不同测量条件下进行高速连续测量，1台仪器即可满足所有要求。

检查速度提高了2倍(跟以往型号相比):
    和HIOKI的以往型号(3532-50)相比，大大缩短了测量时间。LCR模式下，以往机型一般需要5ms的测量时间，而IM3570的检查速度提高了2倍。需要全数检查电子零部件的生产线中，IM3570发挥了作用。

测量的反复精度提高了1位(※1mΩ，100次测量时):
    功能性高分子电容在推进低ESR化的同时，要求正确测量多个mΩ。IM3570在测量低阻抗时的精度比以往机型提高了1位，因此为用户提供稳定测量。

广范围的测量频率:
    阻抗分析仪IM3570可在DC和4Hz～5Hz的范围内设置5位分辨率的频带(1kHz以下为0.01Hz分辨率)。可在接近共振频率的测量和工作条件的状态下进行测量和评价。

15种测量参数:
    可测量Z、Y等15种参数，并将需要的参数读取至计算机中。

具备防止误操作的接触检查功能:
    装载了4端子测量、2端子测量的接触检查功能。防止在测量电极不接触被测物的状态下测量的情况，因此可以避免出现未检查的产品出厂。

广范围的测量电压/电流:
    外加一般的开路信号发生，可在恒压/恒流模式下进行考虑到电压/电流依存性的测量。可设置广范围的、5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)以下的测量信号电平。

测试线可延长至4m:
    4端子的构造可降低测试线的影响，测试线长达4m仍可保证精度。从而便于自动设备的配线。

IM3570阻抗分析仪性能：
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
日本日置HIOKI IM3570阻抗分析仪基本参数

主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头
IM3570阻抗分析仪可选件：
4端子探头L2000:DC~5MHz，1m长
测试冶具 9262:直接连接型, DC～5 MHz
测试冶具 9263:DC~5MHz，直接连接型，测试样品尺寸：1mm~10mm
SMD测试治具9677:用于侧面有电极的SMD;DC~120MHz，测试样品;尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9699:用于底部有电极的SMD;DC~120MHz，测试样品;尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下

    阻抗分析仪是以让测量频率和测量电压连续变化的同时，扫描测量被测物的特性为主要功能。可用于如线圈、变压器、电容、压电元件的开发和检查等用途中。因此，阻抗分析仪对于复苏中的电子零部件市场，可以说是不可欠缺的测量仪器。
※阻抗：交流电路中电流不容易流通的程度。单位为Ω。
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