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阻抗分析仪IM3570

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商品介绍
  

阻抗分析仪IM3570可进行LCR、DCR测量和扫描测量。而且和HIOKI以往的LCR测试仪相比,大幅缩短了测量时间,进一步提高了测量精度。将用于线圈、电容、压电元件等电子零部件生产线上的检查,另外还适用于大学和企业研究部门的开发方面。
IM3570阻抗分析仪特点
不同测量条件下,1台进行高速测量:
    测量电容等零部件时,有时在不同条件下(频率、电平)测量多种测量项目,1条生产线中需要多台测量仪器。IM3570可再不同测量条件下进行高速连续测量,1台仪器即可满足所有要求。

检查速度提高了2倍(跟以往型号相比):
    和HIOKI的以往型号(3532-50)相比,大大缩短了测量时间。LCR模式下,以往机型一般需要5ms的测量时间,而IM3570的检查速度提高了2倍。需要全数检查电子零部件的生产线中,IM3570发挥了作用。

测量的反复精度提高了1位(※1mΩ,100次测量时):
    功能性高分子电容在推进低ESR化的同时,要求正确测量多个mΩ。IM3570在测量低阻抗时的精度比以往机型提高了1位,因此为用户提供稳定测量。

广范围的测量频率:
    阻抗分析仪IM3570可在DC和4Hz~5Hz的范围内设置5位分辨率的频带(1kHz以下为0.01Hz分辨率)。可在接近共振频率的测量和工作条件的状态下进行测量和评价。

15种测量参数:
    可测量Z、Y等15种参数,并将需要的参数读取至计算机中。

具备防止误操作的接触检查功能:
    装载了4端子测量、2端子测量的接触检查功能。防止在测量电极不接触被测物的状态下测量的情况,因此可以避免出现未检查的产品出厂。

广范围的测量电压/电流:
    外加一般的开路信号发生,可在恒压/恒流模式下进行考虑到电压/电流依存性的测量。可设置广范围的、5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)以下的测量信号电平。

测试线可延长至4m:
    4端子的构造可降低测试线的影响,测试线长达4m仍可保证精度。从而便于自动设备的配线。

IM3570阻抗分析仪性能:
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
日本日置HIOKI IM3570阻抗分析仪基本参数

测量模式 LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量
测量参数 Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q
测量量程 100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定)
显示范围 Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示绝对值
θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)
Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%)
基本精度 Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°
测量频率 4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进)
测量信号电平 V模式,CV模式(普通模式)
50mV~1Vrms,1mVrms步进(1MHz以下)
10mV~1Vrms,1mVrms步进(1.0001MHz以上)
CC模式(普通模式)
10μA~50mA rms,10μA rms步进(1MHz以下)
10μA~10mA rms,10μA rms步进(1.0001MHz以上)
输出阻抗 普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω
显示 彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF
测量时间 0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值)
测量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能 DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能
接口 EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通讯,U盘,LAN
电源 AC90~264V,50/60Hz,最大150VA
打印 拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)
接口 GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)
电源 AC90~264V,50/60Hz,最大150VA
体积和重量 330W×119H×307Dmm,5.8kg
附件 电源线×1

主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头
IM3570阻抗分析仪可选件:
4端子探头L2000:DC~5MHz,1m长
测试冶具 9262:直接连接型, DC~5 MHz
测试冶具 9263:DC~5MHz,直接连接型,测试样品尺寸:1mm~10mm
SMD测试治具9677:用于侧面有电极的SMD;DC~120MHz,测试样品;尺寸:3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9699:用于底部有电极的SMD;DC~120MHz,测试样品;尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下

    阻抗分析仪是以让测量频率和测量电压连续变化的同时,扫描测量被测物的特性为主要功能。可用于如线圈、变压器、电容、压电元件的开发和检查等用途中。因此,阻抗分析仪对于复苏中的电子零部件市场,可以说是不可欠缺的测量仪器。
※阻抗:交流电路中电流不容易流通的程度。单位为Ω。
 本文链接:http://www.hioki.net.cn/a/LCRceshiyi/20111019/IM3570.html

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